Gracias al capítulo profesional Electron Device Society  (EDS) de la Sección Centro Occidente aprobado en septiembre de 2022 por el Instituto de Ingeniería Eléctrica y Electrónica (IEEE por sus siglas en inglés), LAIDEA UNAM colabora de manera intensiva con instituciones mexicanas, a nivel nacional y regional, para promover la generación conjunta de innovación en tecnología sustentable, que atienda las necesidades del país y del estado de Michoacán.

IEEE es la organización profesional técnica más grande del mundo dedicada al avance de la tecnología en beneficio de la humanidad.

https://www.ieee.org

Michoacán es conocido por ser un estado altamente agrícola, que requiere una atención INMEDIATA y la unión de esfuerzos ante las necesidades tecnológicas para la detección y monitoreo de contaminantes agroquímicos, calidad de agua, e incluso la generación y distribución de energía.  Para ello LAIDEA impulsa la cooperación regional con instituciones potenciales en sustentabilidad, ingeniería y nanotecnología. Además de institutos UNAM del Campus Morelia,  a nivel estado se colabora y se cuenta con el apoyo de:

  • Instituto de Ciencia, Tecnología e Innovación del estado de Michoacán (ICTI).
  • Centro de Bachillerato Tecnológico,industrial y de servicios (CBTis) No. 94, Pátzcuaro, Mich.
  • Institutos Tecnológico de Morelia (ITM) y Zitácuaro (ITZ)
  • Universidad Michoacana de San Nicolas de Hidalgo (UMSNH)
  • Institutos Tecnológicos Superiores de Uruapan, Pátzcuaro y Ciudad Hidalgo (ITSU, ITSPA e ITSCH, respectivamente)
  • Universidad de la Ciénega de Michoacán

Más colaboradores nacionales: https://www.bremex-steaps.net/

MAPA RED DE COLABORACIÓN NACIONAL Y ESTATAL


SERVICIOS DE COLABORACIÓN LAIDEA UNAM

Llenar el formulario para la solicitud de algún servicio colaborativo en: 

  • Fabricación de dispositivos (diodos, transistores, capacitores)
  • Caracterización eléctrica (corriente-voltaje)
  • Caracterización óptica en colaboración con la Universidad de Bremen (fotoconductividad, fotoluminiscencia)
  • Espectroscopía de impedancia (LRC-meter)
  • Modelado, simulación y/o extracción de parámetros de nuevos materiales/dispositivos
  • Scanning Tunneling Microscopy – para capas desde 2 nm hasta 300 nm
  • Microscopía de barrido (Servicio del Lab. de Microscopía LaMic ENES Morelia, Dr. Orlando Hernández Cristóbal)